FIB-SEM技术在维纳米级单颗粒三维重构中的应用-分析测试中心
 
分析测试中心
设为易玩棋牌app下载  |  加入收藏
 学校易玩棋牌app下载  本站易玩棋牌app下载  中心概况  信息动态  共享仪器  服务指南  科研教学  实验与分析  规章制度  联系我们 
  中心简介
  ​贵州理工学院分析测试中心成立于2015年,目标定位是为学校学科建设、科学研究、科研教学提供分析测试的公共服务校级平台;是分析测试技术、方法的研发中心;是培养高层次人才的重要培训和实验基地;同时它面向社会开放共享,积极为地方的科研、经济建设。。。
  服务预约
  友情链接
  实验与分析
当前位置: 本站易玩棋牌app下载>>实验与分析>>正文
 
FIB-SEM技术在维纳米级单颗粒三维重构中的应用
2019-10-09 16:32   审核人:

FIB-SEM是聚焦离子束(Focused Ion beam,FIB)与扫描电子束(Scanning Electron Microscope, SEM)双束系统,聚焦离子束可用于对样品进行微加工,扫描电子束可用于样品表面形貌微观成像和“二维”表征分析,也能对FIB加工过程进行实时观测,因此,FIB-SEM系统可实现对样品进行定点蚀刻、沉积,截面切割、TEM电镜样品制备、微纳器件制备、电路修复、三维结构表征等。分析测试中心电镜室负责一台FIB-SEM系统Helios NanoLab G3 CX的运行,根据所内科研工作需求,我们应用此台FIB-SEM开展了定点刻蚀、沉积、TEM样品制备及三维重构等工作,以下简要介绍各项工作,重点介绍FIB-SEM技术在微纳米级单颗粒三维重构中的应用。

 

详情见

关闭窗口

分析测试中心 版权所有  

多彩彩票平台 悠洋棋牌 上海11选5走势图 多彩彩票平台 上海11选5 上海11选5APP 悠洋棋牌 上海11选5 上海11选5走势图 悠洋棋牌